x-ışını kırınımı ne demek?

X-Işını Kırınımı (XRD)

X-ışını kırınımı (https://www.nedemek.page/kavramlar/x-ışını%20kırınımı), kristal yapılı malzemelerin atomik ve moleküler yapısını incelemek için kullanılan güçlü bir analitik tekniktir. Temel prensibi, X-ışınlarının bir kristal malzeme üzerine gönderildiğinde, atomlar tarafından saçılması ve bu saçılan ışınların girişim yaparak kırınım desenleri oluşturmasıdır. Bu desenler, malzemenin kristal yapısı hakkında bilgi içerir.

Temel Prensipler:

Uygulama Alanları:

  • Malzeme Karakterizasyonu: Bilinen veya bilinmeyen katı kristal malzemelerin tanımlanması.
  • Faz Analizi: Çok fazlı malzemelerdeki farklı fazların belirlenmesi ve miktarlarının tespiti.
  • Kristal Yapı Tayini: Atomların kristal örgüdeki düzenlenmesinin belirlenmesi.
  • Tane Boyutu ve Kristalinite Ölçümü: Malzemenin mikroyapısal özelliklerinin belirlenmesi.
  • Kalıntı Gerilme Analizi: Malzemedeki iç gerilmelerin belirlenmesi.
  • İnce Film Analizi: İnce filmlerin kalınlığı, yapısı ve bileşimi hakkında bilgi edinilmesi.

XRD Cihazı:

Tipik bir XRD cihazı, bir X-ışını kaynağı (https://www.nedemek.page/kavramlar/x-ışını%20kaynağı), bir numune tutucu, bir detektör ve kontrol ve veri analizi için kullanılan bir bilgisayardan oluşur. X-ışınları numuneye yönlendirilir ve kırınan ışınlar detektör tarafından algılanır. Detektörün konumu değiştirilerek farklı açılarda kırınan ışınlar ölçülür ve kırınım deseni oluşturulur.

Avantajları:

  • Tahribatsız bir analiz tekniğidir.
  • Çok çeşitli malzemelere uygulanabilir.
  • Hızlı ve güvenilir sonuçlar verir.

Dezavantajları:

  • Numunenin kristal yapılı olması gerekir.
  • Amorf malzemeler için sınırlı bilgi sağlar.
  • Verilerin yorumlanması uzmanlık gerektirebilir.